BDU:2025-11357

Средний уровень опасности (базовая оценка CVSS 2.0 составляет 6) Высокий уровень опасности (базовая оценка CVSS 3.1 составляет 7) Средний уровень опасности (оценка CVSS 4.0 составляет 4,4) CVSS 7 · AV:L/AC:H/PR:L/UI:N/S:U/C:H/I:H/A:H

Уязвимость функций nativeImage.createFromPath() и nativeImage.createFromBuffer() фреймворка для написания приложений Electron, позволяющая нарушителю получить несанкционированный доступ к защищаемой информации

Соответствие зарубежным идентификаторам

CVE-2024-46993

Отчёты сканеров говорят на языке CVE, требования регуляторов — на языке БДУ. Перевести список из отчёта →

Описание

Уязвимость функций nativeImage.createFromPath() и nativeImage.createFromBuffer() фреймворка для написания приложений Electron связана с переполнением буфера в динамической памяти. Эксплуатация уязвимости может позволить нарушителю получить несанкционированный доступ к защищаемой информации

Способ устранения

Использование рекомендаций: https://github.com/electron/electron/security/advisories/GHSA-6r2x-8pq8-9489

Сведения записи

Дата публикации: 19.09.2025

Класс уязвимости: Уязвимость кода

Статус: Подтверждена производителем

Устранение: Уязвимость устранена

Эксплойт: Данные уточняются

Уязвимое программное обеспечение

Производитель	Название	Версия	Платформа
Electron	Electron	до 28.3.2	Не указана
Electron	Electron	до 29.3.3	Не указана
Electron	Electron	до 30.0.3	Не указана

Чтобы такие записи находились не вручную, ведите реестр программного обеспечения: в личном кабинете уязвимости сопоставляются с вашим ПО, а работы по устранению попадают в план. Завести кабинет →

Источник: Банк данных угроз безопасности информации ФСТЭК России. Данные выгружены 17.08.2026, записей в справочнике — 92920. Справочник не является официальным ресурсом ФСТЭК России: сверяйте сведения с первоисточником.